Как отредактировать запись в вк если уже нельзя: Как отредактировать пост в ВК спустя длительное время?

В. К. Сингх, нынешний государственный министр иностранных дел, был представлен своим адвокатом, который сообщил специальному судье CBI Аджаю Кумару Джейну, что его клиент получил уведомление, выданное судом, о предоставлении записи разговора Теджиндеру Сингху, который был обвинен в обвиняемый CBI в случае.

Затем судья попросил адвоката Сингха подать письменные показания относительно компакт-диска, чтобы дело могло продолжаться беспрепятственно.

Теджиндеру Сингху предъявлено обвинение в совершении преступления, наказуемого в соответствии со статьей 12 Закона о предотвращении коррупции.

CBI собрал 20 свидетелей обвинения, в том числе тогдашнего министра обороны А.К. Энтони, Т. К.А. Наира, тогдашнего советника премьер-министра и В.К. Сингха, и подал комплект из 18 документов вместе с обвинительным заключением.

CBI сообщило, что, по словам В. К. Сингха, когда он сообщил об инциденте с предполагаемым предложением взятки Теджиндером Сингхом, тогдашний министр обороны «выразил шок».

Агентство в своем обвинительном заключении утверждало, что во время расследования бывший командующий армией утверждал, что записал предполагаемый разговор между ним и Теджиндером Сингхом 22 сентября 2010 г., но «то же самое не было предоставлено им (В. К. Сингх ) в следственный орган, несмотря на усилия».

CBI утверждал, что В. К. Сингх сказал, что 22 сентября 2010 года во время встречи в его офисе Теджиндер Сингх якобы предложил ему взятку в размере 14 крор рупий, чтобы очистить файл для закупки грузовиков Tatra к первой неделе Октябрь.

Агентство также утверждало, что до предполагаемого предложения взятки у Теджиндера Сингха и В. К. Сингха были «отличные рабочие отношения».

Агентство также утверждало, что жалоба и заявление, данные В. К. Сингхом, были «должным образом подтверждены» цепью обстоятельств, доказывающих, что Теджиндер Сингх предложил ему взятку в размере 14 крор рупий за очистку файла, касающегося грузовиков Tatra.

19 октября 2012 года против Теджиндера Сингха было возбуждено дело по жалобе генерала В. К. Сингха.

3D-профилировщик поверхности | КЕЙЕНС Америка

Трехмерный профилограф поверхности VK-X3000 использует метод тройного сканирования, в котором используются методы лазерного конфокального сканирования, изменения фокуса и интерферометрии белого света, что позволяет проводить высокоточные измерения и анализ любой цели. VK-X3000 имеет разрешение 0,01 нм и может сканировать области размером до 50 x 50 мм (1,97 дюйма x 1,97 дюйма), что позволяет измерять общую форму цели, сохраняя при этом высокое разрешение для анализа мелких деталей поверхности. . Новый 3D-профилировщик поверхности KEYENCE может работать с любыми объектами, в том числе с прозрачными или зеркальными поверхностями, большими изменениями высоты или крутыми углами.

Каталоги Цена

Особенности

Основы оптического профайлера

Наблюдение

Широкий диапазон увеличения, от оптических микроскопов до СЭМ

• Увеличение до 28 800×
• Автоматическая фокусировка
• Наблюдайте за любым материалом

Измерение

Мгновенное бесконтактное сканирование поверхности

• Без повреждения цели
• Точное измерение наноуровня
• Совместим с любой формой и материалом

Анализ

Беспрецедентная характеристика поверхности

• Количественное определение даже самых подробных форм
• Легко различать поверхности
• Анализ шероховатости

Точное сканирование независимо от материала и формы

• Точное измерение крутых склонов и наклонных поверхностей
• Лучшее в своем классе разрешение XY позволяет захватывать даже самые мелкие элементы
• Нет потери данных на прозрачных или сильно отражающих поверхностях

Снятая с производства серия

• Лазерный 3D-сканирующий конфокальный микроскоп

  Серия ВК-Х

  Снято с производства

• Цветной 3D лазерный сканирующий микроскоп

  Серия VK-8700/9700 GenerationII

  Снято с производства

Профилировщик поверхности — это инструмент, который собирает трехмерные данные о поверхности цели, обычно для измерения шероховатости поверхности. Профилировщики поверхности могут использовать щуп-щуп, белый свет, лазер или другие методы для сбора данных. Традиционно использовались щупы-щупы, сделанные из алмаза, однако большинство отраслей промышленности переходят на оптические системы из-за того, что поверхность царапается и может быть повреждена при использовании физического щупа-щупа.

Как использовать профилировщик поверхности для измерения шероховатости поверхности

1. С помощью профилографа поверхности контактного типа шероховатость поверхности измеряется путем проведения зонда по поверхности объекта. Напротив, лазерный бесконтактный профилировщик поверхности излучает лазерный луч на цель и обнаруживает отраженный свет для измерения шероховатости.
2. Направление измерения является ключом к успешному измерению. Например, обработанное металлическое изделие обычно измеряется перпендикулярно направлению обработки, чтобы профайлер мог более надежно фиксировать характеристики поверхности.

делятся на две основные категории: контактные и бесконтактные системы. В контактных системах используется датчик или щуп, который физически контактирует с измеряемой поверхностью. Серия VK-X представляет собой бесконтактную измерительную систему, преодолевающую общие ограничения контактных систем.

Контактные системы, как правило, имеют ряд ограничений, включая повреждение некоторых типов поверхностей, невозможность измерения вязких или клейких материалов, а также невозможность измерения элементов поверхности, меньших, чем кончик щупа.

Оптические микроскопы, как правило, являются стандартом для визуализации, но эти системы имеют малую глубину резкости и ограниченное пространственное разрешение (приблизительно 500 нм). С другой стороны, РЭМ может обеспечить чрезвычайно высокое разрешение и увеличение, но может создавать только монохромные изображения и не может просматривать более крупные объекты, не разрушая их. Кроме того, SEM сложны в эксплуатации и требуют, чтобы образцы были покрыты проводящим материалом и сканировались в вакууме. 3D Surface Profiler от KEYENCE может захватывать цветные изображения высокой четкости с увеличением до 28 800x.

VK-X оснащен источником белого света и лазерным источником в сочетании с алгоритмом наложения фокуса, что позволяет снимать полностью сфокусированные изображения с высоким разрешением. Кроме того, поскольку используется лазер, можно достичь пространственного разрешения 120 нм. С точки зрения эксплуатации серия VK-X не требует подготовки образца, и даже большие объекты могут быть приспособлены для неразрушающего визуализации.

Многие измерительные системы используют единый принцип измерения для получения данных от цели. Хотя это позволяет использовать систему для измерения некоторых целей, другие цели потребуют использования другой системы измерения. Например, интерферометры белого света с трудом получают данные на очень шероховатых поверхностях или поверхностях с крутыми углами. В этом случае пользователю потребуется использовать лазерный конфокальный микроскоп для получения точных данных о цели.

Оснащенный лазерным конфокальным сканированием, интерферометрией белого света и изменением фокуса, трехмерный профилометр поверхности KEYENCE может измерить практически любую цель. Измерение и анализ можно гибко выполнять в диапазоне от миллиметрового до микрометрового и нанометрового масштаба. Как правило, пользователям требуются три разные измерительные системы для измерения такого широкого диапазона, но подход KEYENCE с тройным сканированием позволяет измерять почти любую цель с помощью всего одного устройства, независимо от материала или формы.

Профилометр поверхности на основе щупа для измерения шероховатости

В приборах для измерения шероховатости поверхности контактного типа кончик щупа непосредственно контактирует с поверхностью образца. Наконечник детектора оснащен наконечником стилуса, который отслеживает поверхность образца и электрически регистрирует вертикальное движение стилуса.

Характеристики профилировщика поверхности на основе щупа

Измерители шероховатости поверхности контактного типа обеспечивают надежные измерения, поскольку они непосредственно касаются образца. Однако прямой контакт с образцом часто имеет много недостатков, как указано ниже.

Преимущества

— Прозрачный волнистый профиль
— Возможность измерения больших расстояний

Недостатки

— Износ иглы
— Измерение давления может вызвать появление царапин на поверхности образца
— Невозможность измерения вязких образцов
— Измерение ограничено радиусом кончика щупа

Бесконтактный прибор для измерения профиля поверхности для измерения шероховатости

В бесконтактном измерительном приборе используется свет вместо щупа, используемого в измерительном приборе контактного типа. Эти инструменты бывают нескольких типов, например, конфокальные и интерференционные в белом свете, и различаются в зависимости от используемого принципа. Существует также множество детекторов контактного типа, которые были преобразованы в бесконтактные инструменты путем замены зонда оптическими датчиками и микроскопами. Мы будем использовать трехмерный лазерный сканирующий микроскоп KEYENCE серии VK-X в качестве примера для объяснения принципов работы конфокальных линз.

Лазерный сканирующий 3D-микроскоп использует конфокальный принцип и использует лазер в качестве источника света для измерения шероховатости поверхности мишени.

Принцип измерения лазерным конфокальным сканированием

Лазерные микроскопы используют специальную оптическую систему, состоящую из источника света, светоприемного элемента (ФЭУ), объектива, полузеркала и отверстия для наблюдения с увеличением и анализа формы поверхности.
Лазерный свет, генерируемый источником света, концентрируется в фокальной точке линзой объектива, при этом цель измерения также размещается в фокальной точке. Затем лазерный свет отражается от поверхности мишени, проходит через линзу объектива и снова фокусируется. Отверстие расположено в фокусе, прямо перед светоприемным элементом. Сфокусированный свет проходит через точечное отверстие, а весь отраженный свет попадает на светоприемный элемент.

Методы лазерного конфокального сканирования

Некоторыми типичными методами сканирования, используемыми в лазерных микроскопах, являются сканер Гальвано, акустооптическое устройство (АОП) или диск Нипкова.

Метод гальваносканирования:
Зеркала, отражающие лазерный свет, прикреплены к концам серводвигателей. Серводвигатели управляются для изменения углов зеркал, что заставляет лазер сканировать в направлениях X и Y. Хотя этот подход может обеспечить высокое качество данных, сканирование требует времени.
Метод акустооптического прибора (АОП):
В этом методе используется акустооптическое устройство, представляющее собой акустооптическую среду из стекла, к которой прикреплен пьезоэлектрический элемент. При подаче электрического сигнала на этот пьезоэлектрический элемент генерируются ультразвуковые волны. Эти волны преломляют лазерный свет, проходящий через акустооптическую среду. Несмотря на высокую скорость сканирования, полученные данные подвержены искажениям.
Метод диска Нипкова:
Диск с одним или несколькими рядами отверстий, расположенных по спирали, вращается, и несколько лучей света, проходящих через отверстия, сканируют поверхность образца. Хотя этот метод может обеспечить относительно высокое качество данных, наблюдение за образцами с низкой отражательной способностью затруднено.

Дополнительные принципы измерения

В последние годы все большее внимание привлекают усовершенствованные трехмерные профилировщики поверхностей, сочетающие несколько различных принципов измерения. Комбинируя несколько принципов измерения в одном устройстве, можно компенсировать слабые места каждого принципа измерения. Трехмерный профилометр поверхности Keyence серии VK-X3000 объединяет в одном устройстве три различных принципа: интерферометрию белого света, лазерное конфокальное сканирование и изменение фокуса. Это позволяет одному устройству измерять и анализировать множество целей, независимо от их материала, формы или состояния поверхности.

Принцип интерферометрии белого света:
Интерферометрия белого света фиксирует данные трехмерной формы путем наблюдения картин интерференции света с использованием датчика изображения, такого как CMOS. При использовании интерференционного объектива со встроенным эталонным зеркалом белый свет светодиода или другого источника света используется для освещения эталонного зеркала и цели (измерительной поверхности). Свет, отраженный от каждого объекта, интерферирует друг с другом, и интерференционная картина проявляется в виде контурных линий на каждой половине длины волны. Это соответствует форме поверхности мишени относительно эталонного зеркала. Затем интерференционная полоса захватывается датчиком изображения, и обработка используется для определения трехмерной формы цели.

A: эталонное зеркало, B: линза объектива, C: светоделитель, D: образец

Принцип изменения фокуса:
Датчик изображения с высоким разрешением используется для определения точки фокусировки для каждого пикселя путем обнаружения изменений фокуса (т.е. степени размытия изображения). Чтобы обнаружить изменения фокуса, несколько изображений цели захватываются, пока объектив перемещается в направлении Z. Для сфокусированных изображений разница в яркости между соседними пикселями увеличивается пропорционально яркости изображения. Однако, если изображение не в фокусе, разница в яркости между соседними пикселями становится небольшой. Это позволяет получить информацию о высоте цели путем регистрации положения линзы в точке с наибольшей разницей в яркости.

Характеристики бесконтактного профилографа поверхности

В дополнение к пунктам, которые уже были объяснены, характеристики бесконтактных типов могут быть обобщены, как показано ниже.

Преимущества

— Отсутствие повреждений поверхности образца
— Способен измерять меньшие изменения, чем типы контактов
— Быстрые измерения
— Одновременное наблюдение изображения поверхности и профиля высоты
— Возможность получения полностью сфокусированных изображений высокой четкости, которые могут конкурировать с SEM

Недостатки

— Ограниченный размер объекта измерения

Измерение шероховатости поверхности

Шероховатость поверхности имеет множество стандартизированных параметров; чем больше параметров, тем сложнее становится измерение, что, как правило, означает больше времени, затрачиваемого на завершение оценки. Количественной оценки самой по себе недостаточно для вынесения суждения, а тесты «пройдено/не пройдено» и контроль качества могут быть сложными. Трехмерные профилографы поверхности KEYENCE серии VK-X3000 могут сканировать поверхности целей с высоким разрешением и выполнять количественные трехмерные измерения. Результаты измерений могут быть подвергнуты тесту «годен/не годен» путем сравнения их на нескольких образцах с использованием 42 параметров шероховатости. Шероховатость поверхности определяется количественно, а распределение шероховатости может быть визуализировано в виде графиков, что позволяет мгновенно количественно оценить различия в материале, отделке, текстуре, тактильных ощущениях и других характеристиках внешнего вида.

Изображение, подобное РЭМ

VK-X3000 оснащен цветной CMOS-камерой и 16-битным ФЭУ для захвата отраженного лазерного излучения. Благодаря повышенному разрешению при использовании лазера на белом свете VK-X способен захватывать изображения с большим увеличением с более высоким разрешением, чем стандартные оптические микроскопы. С максимально достижимым увеличением в 28800x VK-X может захватывать цветные изображения с высоким разрешением, которые могут конкурировать с SEM. Кроме того, при использовании VK-X не требуется подготовки образцов, поэтому изображения можно получать мгновенно.

Измерение больших целей

Как правило, 3D-профилировщики поверхности не могут измерять цели, которые нельзя разместить на столике XY. Тем не менее, трехмерные профилографы поверхности серии VK-X3000 сконструированы таким образом, что микроскоп можно разделить на измерительную головку и основание. Это позволяет интегрировать измерительную головку с более крупными предметными столиками, обеспечивая практически безграничный диапазон измерений.

Нет, 3D-профилировщик поверхности серии VK-X3000 более прост в эксплуатации, чем РЭМ и обычные микроскопы. Функция AI-Scan автоматизирует процесс сбора данных, позволяя усовершенствованным алгоритмам выполнять настройку нескольких параметров сканирования. От пользователя требуется только поместить цель на сцену и нажать «Измерить». Независимо от опыта или знаний оператора, серия VK-X3000 фиксирует точные, воспроизводимые результаты, предотвращая ограничение измерений только людьми с определенным набором навыков и избавляя от многочасового обучения работе с системой.

Максимальное увеличение, обеспечиваемое 3D-профилировщиком поверхности серии VK-X3000, составляет 28800× (при полном отображении 23-дюймового монитора). Мы предлагаем широкий ассортимент специализированных объективов от 2,5× до 150×, каждый из которых проходит тщательную проверку перед отправкой. Объективы с большим рабочим расстоянием доступны для измерения целей с большими изменениями высоты и высоким соотношением сторон.

Серия VK-X3000 использует систему корпоративных лицензий, позволяющую устанавливать и использовать программное обеспечение на нескольких компьютерах без дополнительных затрат. Программное обеспечение также можно использовать удаленно, поддерживая работу из дома и доступ из других офисов или отелей во время путешествий.